Klávesové zkratky na tomto webu - základní­
Přeskočit hlavičku portálu


Český vědec přispěl k objevu nového způsobu sledování atomů a hýbání s nimi

aktualizováno 
Mezinárodní tým vědců z ČR, Německa a Japonska objevil nové možnosti zobrazování jednotlivých atomů pomocí rastrovacích mikroskopů. Tyto přístroje umožňují nejen zobrazovat a charakterizovat jednotlivé atomy na povrchu pevných látek, ale také s nimi manipulovat.

Výsledek počítačové simulace zobrazující změnu rozložení elektronové hustoty v okolí atomu na povrchu pevné látky v důsledku interakce s hrotem mikroskopu při různé vzdálenosti. | foto: ČTK/AV ČR

Objev otvírá zcela nové možnosti charakterizace pevných látek na atomární úrovni, především rozložení elektronové hustoty na povrchu pevné látky, uvedl tiskový odbor Akademie věd České republiky.

Vědci publikovali zcela nové informace o původu atomárního kontrastu takzvanou Kelvinovou sondou v posledním čísle časopisu Physical Review Letters.

Jednotlivé atomy křemíku na povrchu pevné látky zobrazené pomocí tradičního mikroskopu atomárních sil (vlevo) a nové metody Kelvinova mikroskopu atomárních sil (vpravo).

Jednotlivé atomy křemíku na povrchu pevné látky zobrazené pomocí tradičního mikroskopu atomárních sil (vlevo) a nové metody Kelvinova mikroskopu atomárních sil (vpravo).

Český člen týmu, Pavel Jelínek z Fyzikálního ústavu AV, provedl sérii experimentálních měření, která umožnila hlubší vhled do původu atomárního kontrastu Kelvinovou sondou. Vědecký tým jednoznačně prokázal, že atomární kontrast není artefaktem měření, ale že má fyzikální původ. Atomární kontrast je důsledkem změny rozložení hustoty elektronového náboje v okolí atomů na povrchu pevné látky při řízené interakci s hrotem mikroskopu.

Jelínek uskutečnil komplexní počítačové simulace interakce hrotu rastrovacího mikroskopu s atomy na povrchu pevných látek a její vliv na změnu rozložení hustoty elektronů na povrchu pevných látek. Na základě těchto simulací vypracoval teorii, která vysvětluje možnost detekce jednotlivých atomů na povrchu pevných látek pomocí Kelvinova mikroskopu atomárních sil.

Rastrovací mikroskopy hrají zásadní roli v celé řadě vědních oborů, mimo jiné v základním i aplikovaném výzkumu materiálových vlastností pevných látek, v nanotechnologiích či v molekulární a buněčné biologii.

Možnost dosažení atomárního rozlišení pomocí takzvaného Kelvinova mikroskopu atomárních sil, je v poslední době předmětem intenzivních diskusí. Umožňuje detekovat změnu aplikovaného elektrického potenciálu, kompenzující přenos náboje mezi hrotem a povrchem pevné látky, uvedl Jelínek.

Autor:




Hlavní zprávy

Další z rubriky

Fotoaparáty Nikon používají fotografové už 100 let
Fotoaparáty Nikon používají lidé už 100 let

VIDEO Před 100 lety začala v Tokiu působit společnost Nikon, dnes velikán na trhu s fotoaparáty. Do Evropy a Ameriky se ale společnost dostala až v roce 1950, a to...  celý článek

Rekordní výška v rekordním čase. To umělo letadlo SSW D.II
Rekordní výška v rekordním čase. To umělo letadlo SSW D.II

VIDEO 5. srpna 1917 stanovil tovární pilot firmy Siemens Schuckert Werke rekord ve stoupavosti. Se strojem SSW D.II se mu podařilo vystoupat za 35 minut a 30 sekund...  celý článek

Před 100 lety se narodil architekt Národního muzea
Před 100 lety zemřel architekt Národního muzea

VIDEO Před 100 lety zemřel ve Špindlerově Mlýně Josef Schulz, architekt, který zrekonstruoval požárem poničené Národní divadlo, navrhl Národní muzeum a společně s...  celý článek

Najdete na iDNES.cz



mobilní verze
© 1999–2017 MAFRA, a. s., a dodavatelé Profimedia, Reuters, ČTK, AP. Jakékoliv užití obsahu včetně převzetí, šíření či dalšího zpřístupňování článků a fotografií je bez souhlasu MAFRA, a. s., zakázáno. Provozovatelem serveru iDNES.cz je MAFRA, a. s., se sídlem
Karla Engliše 519/11, 150 00 Praha 5, IČ: 45313351, zapsaná v obchodním rejstříku vedeném Městským soudem v Praze, oddíl B, vložka 1328. Vydavatelství MAFRA, a. s., je členem koncernu AGROFERT.